发布时间:2024-03-22 浏览次数:139
Ce:Lu2SiO5晶体闪烁晶体的X或Y水平射线有着较高的发光效率,由于它的能度和强度这些晶体被广泛用于安全检查和检测设备中,比如机场,火车站,自定义端口以及石油勘探领域。
产品名称
Ce:Lu2SiO5晶体基片
技术参数
晶体结构:单斜晶系
晶格常数:a=14.254b=10.241 c=6.641 γ=122.0
纯度:>99.99%
密度:7.4g/cm3
硬度:5.8( mohs)
熔点:2047℃
热膨胀:19.5 10-6/K
折射率:1.82
发射波长:418nm
生长方法:布里奇曼
产品规格
常规晶向:(001) 掺Ce摩尔比0.175%
常规尺寸:10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm
抛光情况:单抛、双抛
抛光面粗糙度:Ra<15A
晶体缺陷
人工生长单晶都可能存在晶体内部缺陷。
标准包装
1000级超净室,100级超净袋或单片盒封
晶体材料咨询电话:199-5653-2471王经理